一种存储器的信号测试系统及测试方法与流程

1.本发明涉及存储器领域，特别是涉及一种存储器的信号测试系统及测试方法。


背景技术：

2.内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）是能够存储代码和数据管理的内存。内嵌式存储器在研发阶段需要进行信号测试，以保证其信号完整性符合规范标准。在对内嵌式存储器进行信号测试时，测试效率低下。因此，存在待改进之处。


技术实现要素：

3.鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器的信号测试系统及测试方法，能够提升存储器信号测试的测试效率。
4.为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器的信号测试系统，包括：主控端，用以发出调试指令、测试指令以及终止指令；示波器，通讯连接于所述主控端，用以根据所述调试指令，搭建相应的测试环境；以及测试板，通讯连接于所述主控端、所述示波器，所述测试板上通讯连接内嵌式存储器，所述测试板根据所述测试指令，对所述内嵌式存储器进行测试，并在所述示波器中生成测试数据；其中，当所述主控端发出所述终止指令后，所述测试板停止测试，所述示波器将所述测试数据发送至所述主控端。
5.在本发明一实施例中，还包括探测器，所述探测器通讯连接于所述测试板、所述示波器，所述示波器基于预设的测试项目，以选择对应的所述探测器与所述测试板之间的测试通道。
6.在本发明一实施例中，所述调试指令包括设置指令与检测指令，所述示波器用以响应于所述设置指令，以设置相应的测试环境，所述示波器用以响应于所述检测指令，以进入正常状态。
7.在本发明一实施例中，所述测试板还用以响应于所述测试指令，并基于所述测试指令对所述内嵌式存储器进行测试，并将生成的中间数据通过对应的测试通道传送至所述示波器中，所述示波器基于预设的测试项目，选择对应的中间数据，所述示波器基于选择的中间数据，生成测试数据。
8.在本发明一实施例中，所述主控端还用以基于不同的测试数据，赋予不同的变量，汇总所有的所述变量，表示为测试结果，并导出。
9.本发明还提供一种存储器的信号测试方法，包括：响应于主控端的调试指令，以在示波器上设置相应的测试环境；响应于所述主控端的测试指令，测试板基于所述测试指令，对内嵌式存储器进行测试，并生成测试数据；
响应于所述主控端的终止指令，所述测试板停止测试，所述示波器将所述测试数据发送至所述主控端中。
10.在本发明一实施例中，所述响应于主控端的调试指令，以在示波器上设置相应的测试环境的步骤包括：响应于主控端的设置指令，以在示波器上设置相应的测试环境；响应于所述主控端的检测指令，以使所述示波器进入正常状态。
11.在本发明一实施例中，所述响应于所述主控端的检测指令，以使所述示波器进入正常状态的步骤包括：响应于所述主控端的检测指令，判断所述示波器是否为正常状态；若所述示波器为正常状态，则所述测试环境搭建成功；若所述示波器为异常状态，则所述测试环境搭建失败，所述主控端重复向所述示波器发送所述设置指令，直至所述示波器为正常状态为止，此时所述测试环境搭建成功。
12.在本发明一实施例中，所述响应于所述主控端的测试指令，测试板基于所述测试指令，对内嵌式存储器进行测试，并生成测试数据的步骤包括：响应于所述主控端的测试指令，测试板基于所述测试指令，对内嵌式存储器进行测试，并将生成的中间数据通过对应的测试通道传送至所述示波器中；所述示波器基于预设的测试项目，选择对应的中间数据；所述示波器基于选择的中间数据，生成测试数据。
13.在本发明一实施例中，在所述响应于所述主控端的终止指令，所述测试板停止测试，所述示波器将所述测试数据发送至所述主控端中的步骤之后，还包括：所述主控端基于不同的测试数据，赋予不同的变量；所述主控端汇总所有的所述变量，表示为测试结果，并导出。
14.如上所述，本发明提供一种存储器的信号测试系统及测试方法，能够自动化完成内嵌式存储器的信号测试，进而能够有效提升信号测试效率。同时，通过自动化导出测试结果，可以避免手动记录测试结果时出现错误，从而保证测试结果的准确性。
附图说明
15.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
16.图1显示为本发明的一种存储器的信号测试系统的示意图；图2显示为本发明的一种存储器的信号测试方法的流程图；图3显示为图2中步骤s10的流程图；图4显示为图3中步骤s12的流程图；图5显示为图2中步骤s20的流程图；图6显示为图2中步骤s40的流程图。
17.元件标号说明：10、主控端；11、vba程序；20、示波器；30、探测器；40、测试板；50、内嵌式存储器；
61、网线；62、接口；63、异步收发传输器；64、串口工具；65、探棒；66、通讯接口。
具体实施方式
18.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
19.请参阅图1所示，本发明提供了一种存储器的信号测试系统，其可应用于内嵌式存储器50的信号完整性测试过程中。测试系统可以包括主控端10、示波器20、探测器30以及测试板40。其中，主控端10可以分别与示波器20、测试板40通讯连接。示波器20可以与探测器30通讯连接。探测器30可以与测试板40通讯连接。内嵌式存储器50可以与测试板40通讯连接。通过主控端10、示波器20、探测器30以及测试板40的配合，能够完成内嵌式存储器50的信号完整性测试。
20.在本发明的一个实施例中，主控端10可以为平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、服务器等能够运行计算机程序的计算机设备。计算机设备可以包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，计算机设备的处理器用以提供计算和控制能力。计算机设备的存储器可以包括非易失性存储介质、内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。内存储器可以为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。计算机设备的网络接口用以与外部服务器通过网络连接通信。
21.进一步的，主控端10内可运行vba（visual basic for applications）程序11。或者，主控端10内也可通过运行python/labview/c#等编程软件以代替vba程序11。主控端10可以通过网线（ethernet）61与示波器20通讯连接。主控端10可以通过示波器20编程的标准i/o函数库，发送连接示波器20的指令，以实现主控端10中vba程序11与示波器20的通讯。其中，主控端10向示波器20发送的指令可以包括设置指令与检测指令。
22.在本发明的一个实施例中，示波器20可以用以响应于主控端10的调试指令，并在示波器20上搭建相应的测试环境。其中，测试环境可以包括设置示波器20的横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式等。调试指令包括设置指令与检测指令。
23.具体的，当主控端10通过网线61或usb线与示波器20通讯连接后，可以通过主控端10内安装的vba程序11，向示波器20发出设置指令。示波器20接收到该设置指令后，会基于设置指令进行相应的设置，以搭建相应的测试环境。例如，可以在示波器20上配置横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式等等参数，以便后续再对内嵌式存储器50进行测试时，能够显示对应的测试数据。
24.示波器20可以用以响应于主控端10的检测指令，以使示波器20进入正常状态。例如，示波器20可以响应于主控端10的检测指令，判断示波器20是否为正常状态。若示波器20为正常状态，则测试环境搭建成功。若示波器20为异常状态，则测试环境搭建失败，此时主控端10可以重复向示波器20发送设置指令，直至示波器20为正常状态为止，此时测试环境搭建成功。
25.具体的，在示波器20上初步搭建测试环境后，需要对示波器20进行检测，以判断示波器20是否能够进入正常工作状态。防止后续通过示波器20对内嵌式存储器50的数据进行
显示时，出现显示错误的问题。具体的，当完成初步搭建测试环境后，主控端10可以通过vba程序11发出检测指令。检测指令可以通过网线61传输到示波器20中。示波器20接收到来自主控端10的检测指令后，可以通过示波器20与主控端10的通讯，以判断示波器20是否处于正常状态。当示波器20处于正常状态时，表示示波器20能够正常进行测试，此时示波器20的测试环境搭建成功。当示波器20处于异常状态时，表示示波器20无法正常进行测试，此时示波器20的测试环境搭建失败。
26.进一步的，当示波器20处于异常状态后，示波器20会向主控端10反馈失败指令。主控端10接收到该失败指令后，可以再次向示波器20发出设置指令。示波器20接收到该设置指令后，会基于设置指令重新搭建相应的测试环境。在完成测试环境后，主控端10会再次向示波器20发送检测指令，并再次判断示波器是否处于正常状态。若示波器20处于正常状态，则表示示波器20的测试环境搭建成功。若示波器20处于异常状态，则表示示波器20的测试环境搭建失败。此时主控端10会重复向示波器20发出设置指令与检测指令，直至示波器处于正常状态为止，此时表示示波器20的测试环境搭建成功。
27.在本发明的一个实施例中，探测器30可以为矩阵探棒（matrix probe）。示波器20可通过通讯接口（usb）66与探测器30通讯连接。探测器30可通过探棒（probe）65与测试板40通讯连接。在内嵌式存储器50的测试过程中，需要将内嵌式存储器50中所有的通道与探测器30进行通讯连接。例如，当内嵌式存储器50为emmc5.1时，emmc5.1具有8个data通道、1个command通道、1个clock通道以及1个data strobe通道，因此需要通过测试板40，以将探测器30与内嵌式存储器50中所有的通道通讯连接，进而能够便于将中间数据从对应的通道传输至示波器20中。
28.在本发明的一个实施例中，测试板40可以为xu4测试板。测试板40可以通过接口（socket）62与内嵌式存储器50通讯连接。测试板40可以通过异步收发传输器(universal asynchronous receiver transmitter，uart)63与主控端10上的串口工具（tera term）64通讯连接，进而主控端10中的vba程序11可以向测试板40发出测试指令。或者，也可在主控端10内安装xshell工具代替串口工具64，也可以完成对测试板40的控制。例如，测试板40可以响应于主控端10的测试指令，测试板40基于测试指令对内嵌式存储器50进行测试，并将生成的中间数据通过对应的测试通道传送至示波器20中。示波器20可以基于预设的测试项目，选择对应的中间数据，示波器20基于选择的中间数据，生成测试数据。
29.具体的，在完成主控端10、示波器20、探测器30、测试板40以及内嵌式存储器50的通讯连接后，此时主控端10可以开始对内嵌式存储器50进行测试。在测试时，主控端10可以通过串口工具64向测试板40发出测试指令。测试板40接收到该测试指令后，可以控制内嵌式存储器50进行工作，此时内嵌式存储器50可以基于测试指令，生成不同的中间数据。
30.进一步的，由于内嵌式存储器50可以根据测试指令生成大量的中间数据，对于示波器20而言，部分中间数据是不必要的，仅需要从中间数据中挑选合适的中间数据即可。因此，示波器20需要根据内嵌式存储器50预设对应的测试项目，以完成内嵌式存储器50的信号测试。例如，当某一个测试项目需要同时量测data数据和clock数据时，此时需要开启探测器30中的data通道和clock通道，进而完成data数据和clock数据的同步量测。又例如，当另一个测试项目需要同时量测command数据和clock数据时，此时需要开启探测器30中的command通道和clock通道，进而完成command数据和clock数据的同步量测。因此，示波器20
可以基于预设的测试项目，从内嵌式存储器50生成的中间数据中选择对应的中间数据。在示波器20中，数据大多是通过图形的形式进行显示的。因此，示波器20可以基于搭建的测试环境，将中间数据转换为对应的测试数据。测试数据可以以图形的形式在示波器20上进行显示。图形上可以显示测试数据的横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式等参数。
31.测试板40还可用以响应于主控端10的终止指令，测试板40停止测试，示波器20将测试数据发送至主控端10中。具体的，当嵌式存储器50的信号测试结束时，此时主控端10可以向测试板40发出终止指令。测试板40接收到终止指令后，停止对嵌式存储器50的信号测试。同时，测试板40可以通过探测器30向示波器20发送相应的结束指令。示波器20在接收到结束指令后，会将其保存的所有的测试数据统一发送到主控端10中，并在主控端10内进行相应的处理。
32.在本发明的一个实施例中，当主控端10接收到测试数据后，主控端10可以基于测试数据，导出测试结果。例如，主控端10可以基于不同的测试数据，赋予不同的变量。之后，主控端10可以汇总所有的变量，表示为测试结果，并导出。具体的，当主控端10中的vba程序11获取到所有的测试数据后，为了便于对测试数据进行显示，因此，可以基于vba程序11，向不同的测试数据赋予不同的变量。变量是vba程序11的编程语言中的一个指定的内存位置，用以保存脚本执行过程中可以更改的值。示波器20测试完成的测试数据，可以通过vba程序11中写好的控制命令返回一个值，这个值会赋给这个变量。当通过vba程序11对所有的测试数据赋予相应的变量后，主控端10可以汇总所有的变量，以表示为测试结果，并导出。其中，测试结果可以以excel表格的形式进行导出，每个变量都可以占据excel表格中的单元格，进而实现内嵌式存储器50的芯片型号完整性测试数据的自动化导出。当然，测试结果还可以以其他形式导出，例如还可以以邮件、pdf的形式导出。
33.请参阅图2所示，本发明还提供了一种存储器的信号测试方法，该测试方法与上述实施例中测试系统一一对应。该测试方法可以包括如下步骤：步骤s10、响应于主控端的调试指令，以在示波器上搭建相应的测试环境，其中，调试指令包括设置指令与检测指令；步骤s20、响应于主控端的测试指令，测试板基于测试指令，对内嵌式存储器进行测试，并在示波器中生成测试数据；步骤s30、响应于主控端的终止指令，测试板停止测试，示波器将测试数据发送至主控端中；步骤s40、主控端基于测试数据，导出测试结果。
34.请参阅图3所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤s10时，具体的，步骤s10可包括如下步骤：步骤s11、响应于主控端的设置指令，以在示波器上搭建相应的测试环境，其中，测试环境包括设置示波器的横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式；步骤s12、响应于主控端的检测指令，以使示波器进入正常状态。
35.在本发明的一个实施例中，当执行步骤s11时，主控端10可以为平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、服务器等能够运行计算机程序的计算机设备。可以在主控端10内运行vba程序11。主控端10可以通过网线61与示波器20通讯连接，进而主控端10可以通过示波器20
编程的标准i/o函数库，发送连接示波器20的指令，以实现主控端10中vba程序11与示波器20的通讯。
36.具体的，当主控端10通过网线61与示波器20通讯连接后，可以通过主控端10内安装的vba程序11，向示波器20发出设置指令。示波器20接收到该设置指令后，会基于设置指令进行相应的设置，以搭建相应的测试环境。例如，可以在示波器20上配置横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式等等参数，以便后续再对内嵌式存储器50进行测试时，能够显示对应的测试数据。
37.请参阅图4所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤s12时，具体的，步骤s12可包括如下步骤：步骤s121、响应于主控端的检测指令，判断示波器是否为正常状态；步骤s122、若示波器为正常状态，则测试环境搭建成功；步骤s123、若示波器为异常状态，则测试环境搭建失败，主控端重复向示波器发送设置指令，直至示波器为正常状态为止，此时测试环境搭建成功。
38.在本发明的一个实施例中，在示波器20上初步搭建测试环境后，需要对示波器20进行检测，以判断示波器20是否能够进入正常工作状态。防止后续通过示波器20对内嵌式存储器50的数据进行显示时，出现显示错误的问题。具体的，当完成初步搭建测试环境后，主控端10可以通过vba程序11发出检测指令。检测指令可以通过网线61传输到示波器20中。示波器20接收到来自主控端10的检测指令后，可以通过示波器20与主控端10的通讯，以判断示波器20是否处于正常状态。当示波器20处于正常状态时，表示示波器20能够正常进行测试，此时示波器20的测试环境搭建成功。当示波器20处于异常状态时，表示示波器20无法正常进行测试，此时示波器20的测试环境搭建失败。
39.进一步的，当示波器20处于异常状态后，示波器20会向主控端10反馈失败指令。主控端10接收到该失败指令后，可以再次向示波器20发出设置指令。示波器20接收到该设置指令后，会基于设置指令重新搭建相应的测试环境。在完成测试环境后，主控端10会再次向示波器20发送检测指令，并再次判断示波器是否处于正常状态。若示波器20处于正常状态，则表示示波器20的测试环境搭建成功。若示波器20处于异常状态，则表示示波器20的测试环境搭建失败。此时主控端10会重复向示波器20发出设置指令与检测指令，直至示波器处于正常状态为止，此时表示示波器20的测试环境搭建成功。
40.请参阅图5所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤s20时，具体的，步骤s20可包括如下步骤：步骤s21、响应于主控端的测试指令，测试板基于测试指令对内嵌式存储器进行测试，并将生成的中间数据通过对应的测试通道传送至示波器中；步骤s22、示波器基于预设的测试项目，选择对应的中间数据；步骤s23、示波器基于选择的中间数据，生成测试数据。
41.在本发明的一个实施例中，当执行步骤s21时，当需要对内嵌式存储器50进行测试时，可以将内嵌式存储器50通过接口62通讯接入到测试板40中，以在测试板40内完成测试。其中，测试板40可以与主控端10进行通讯连接。例如，测试板40可以通过异步收发传输器63与主控端10上的串口工具64通讯连接，进而主控端10中的vba程序11可以向测试板40发出测试指令。测试板40还可以通过探棒65与探测器30通讯连接，探测器30可以通过通讯接口
66与示波器20通讯连接。
42.在完成主控端10、示波器20、探测器30、测试板40以及内嵌式存储器50的通讯连接后，此时主控端10可以开始对内嵌式存储器50进行测试。在测试时，主控端10可以通过串口工具64向测试板40发出测试指令。测试板40接收到该测试指令后，可以控制内嵌式存储器50进行工作，此时内嵌式存储器50可以基于测试指令，生成不同的中间数据。在内嵌式存储器50的测试过程中，需要将内嵌式存储器50中所有的通道与探测器30进行通讯连接。例如，当内嵌式存储器50为emmc5.1时，emmc5.1具有8个data通道、1个command通道、1个clock通道以及1个data strobe通道，因此需要通过测试板40，以将探测器30与内嵌式存储器50中所有的通道通讯连接，进而能够便于将中间数据从对应的通道传输至示波器20中。
43.当执行步骤s22时，具体的，由于内嵌式存储器50可以根据测试指令生成大量的中间数据。对于示波器20而言，部分中间数据是不必要的，仅需要从中间数据中挑选合适的中间数据即可。因此，示波器20需要根据内嵌式存储器50预设对应的测试项目，以完成内嵌式存储器50的信号测试。例如，当某一个测试项目需要同时量测data数据和clock数据时，此时需要开启探测器30中的data通道和clock通道，进而完成data数据和clock数据的同步量测。又例如，当另一个测试项目需要同时量测command数据和clock数据时，此时需要开启探测器30中的command通道和clock通道，进而完成command数据和clock数据的同步量测。因此，示波器20基于预设的测试项目，从内嵌式存储器50生成的中间数据中选择对应的中间数据。
44.进一步的，当执行步骤s23时，在示波器20中，数据大多是通过图形的形式进行显示的。因此，示波器20可以基于搭建的测试环境，将中间数据转换为对应的测试数据。测试数据可以以图形的形式在示波器20上进行显示，图形上可以显示测试数据的横轴坐标刻度、纵轴坐标刻度、采样率、触发通道、触发方式等参数。
45.在本发明的一个实施例中，当执行步骤s30时，具体的，当嵌式存储器50的信号测试结束时，此时主控端10可以向测试板40发出终止指令。测试板40接收到终止指令后，停止对嵌式存储器50的信号测试。同时，测试板40可以通过探测器30向示波器20发送相应的结束指令。示波器20在接收到结束指令后，会将其保存的所有的测试数据统一发送到主控端10中，并在主控端10内进行相应的处理。
46.请参阅图6所示，在本发明的一个实施例中，当执行步骤s40时，具体的，步骤s40可包括如下步骤：步骤s41、主控端基于不同的测试数据，赋予不同的变量；步骤s42、主控端汇总所有的变量，表示为测试结果，并导出。
47.在本发明的一个实施例中，当主控端10中的vba程序11获取到所有的测试数据后，为了便于对测试数据进行显示，因此，可以基于vba程序11，向不同的测试数据赋予不同的变量。变量是vba程序11的编程语言中的一个指定的内存位置，用以保存脚本执行过程中可以更改的值。示波器20测试完成的测试数据，可以通过vba程序11中写好的控制命令返回一个值，这个值会赋给这个变量。当通过vba程序11对所有的测试数据赋予相应的变量后，主控端10可以汇总所有的变量，以表示为测试结果，并导出。其中，测试结果可以以excel表格的形式进行导出，每个变量都可以占据excel表格中的单元格，进而实现内嵌式存储器50的芯片型号完整性测试数据的自动化导出。当然，测试结果还可以以其他形式导出，例如还可
以以邮件、pdf的形式导出。
48.可见，在上述方案中，能够自动化完成内嵌式存储器的信号测试，进而能够有效提升信号测试效率。同时，通过自动化导出测试结果，可以避免手动记录测试结果时出现错误，从而保证测试结果的准确性。
49.上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用以限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
50.在本文的描述中，提供了许多特定细节，诸如部件和/或方法的实例，以提供对本发明实施例的完全理解。然而，本领域技术人员将认识到可以在没有一项或多项具体细节的情况下或通过其他设备、系统、组件、方法、部件、材料、零件等等来实践本发明的实施例。在其他情况下，未具体示出或详细描述公知的结构、材料或操作，以避免使本发明实施例的方面变模糊。
51.在整篇说明书中提到“一个实施例”、“实施例”或“具体实施例”意指与结合实施例描述的特定特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中，并且不一定在所有实施例中。因而，在整篇说明书中不同地方的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”或“在具体实施例中”的各个表象不一定是指相同的实施例。此外，本发明的任何具体实施例的特定特征、结构或特性可以按任何合适的方式与一个或多个其他实施例结合。应当理解 本文所述和所示的发明实施例的其他变型和修改可能是根据本文教导的，并将被视作本发明精神和范围的一部分。
52.还应当理解还可以以更分离或更整合的方式实施附图所示元件中的一个或多个，或者甚至因为在某些情况下不能操作而被移除或因为可以根据特定应用是有用的而被提供。
53.另外，除非另外明确指明，附图中的任何标志箭头应当仅被视为示例性的，而并非限制。此外，除非另外指明，本文所用的术语“或”一般意在表示“和/或”。在术语因提供分离或组合能力是不清楚的而被预见的情况下，部件或步骤的组合也将视为已被指明。
54.如在本文的描述和在下面整篇权利要求书中所用，除非另外指明，“一个”、和“该”包括复数参考物。同样，如在本文的描述和在下面整篇权利要求书中所用，除非另外指明，“在
…
中”的意思包括“在
…
中”和“在
…
上”。
55.本发明所示实施例的上述描述(包括在说明书摘要中所述的内容)并非意在详尽列举或将本发明限制到本文所公开的精确形式。尽管在本文仅为说明的目的而描述了本发明的具体实施例和本发明的实例，但是正如本领域技术人员将认识和理解的，各种等效修改是可以在本发明的精神和范围内的。如所指出的，可以按照本发明所述实施例的上述描述来对本发明进行这些修改，并且这些修改将在本发明的精神和范围内。
56.本文已经在总体上将系统和方法描述为有助于理解本发明的细节。此外，已经给出了各种具体细节以提供本发明实施例的总体理解。然而，相关领域的技术人员将会认识到，本发明的实施例可以在没有一个或多个具体细节的情况下进行实践，或者利用其它装置、系统、配件、方法、组件、材料、部分等进行实践。在其它情况下，并未特别示出或详细描述公知结构、材料和/或操作以避免对本发明实施例的各方面造成混淆。
57.因而，尽管本发明在本文已参照其具体实施例进行描述，但是修改自由、各种改变和替换亦在上述公开内，并且应当理解，在某些情况下，在未背离所提出发明的范围和精神的前提下，在没有对应使用其他特征的情况下将采用本发明的一些特征。因此，可以进行许多修改，以使特定环境或材料适应本发明的实质范围和精神。本发明并非意在限制到在下面权利要求书中使用的特定术语和/或作为设想用以执行本发明的最佳方式公开的具体实施例，但是本发明将包括落入所附权利要求书范围内的任何和所有实施例及等同物。因而，本发明的范围将只由所附的权利要求书进行确定。